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AMS
Can Technical Indicators Provide Information for Future Volatility: International Evidence
Yafeng SHI, Xiangxing TAO, Yanlong SHI, Nenghui ZHU, Tingting YING, Xun PENG
系统科学与信息学报(英文) . 2020, (1): 53 -66 .  DOI: 10.21078/JSSI-2020-053-14